1. Acoustic Scanning Probe Microscopy
پدیدآورنده : / Francesco Marinello, Daniele Passeri, Enrico Savio
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : FILMS& TESTING|MATERIALS SCIENCE, COATINGS & ELECTRONIC|MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION &ENGINEERING, ELECTRICAL
رده :
E-BOOK
2. Advanced Computing in Electron Microscopy
پدیدآورنده : / Earl J. Kirkland
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : TESTING& ELECTRONIC|ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY|MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & ENGINEERING (uncategorised)|ENGINEERING, ELECTRICAL &COMPUTER SCIENCE
رده :
E-BOOK
3. Advanced transmission electron microscopy
پدیدآورنده : / Francis Leonard Deepak, Alvaro Mayoral, Raul Arenal, editors
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Transmission electron microscopy.,Nanostructured materials--Nondestructive testing
رده :
QH212
.
T7A39
2015
4. Advances in electron metallography
پدیدآورنده :
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Congresses ، Electron metallography
رده :
TN
690
.
S89
1963
5. Analytical Transmission Electron Microscopy
پدیدآورنده : / rgen Thomas, Thomas GemmingJی
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : TESTING&ENGINEERING (uncategorised)|MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION
رده :
E-BOOK
6. Applications of electron microfractography to materials research
پدیدآورنده :
موضوع : Fractography- Congresses,Electron microscopy- Congresses
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
7. Applications of electron microfractography to materials research
پدیدآورنده :
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Congresses ، Fractography,Congresses ، Electron microscopy
رده :
TA
460
.
S913
1971
8. Applied scanning probe methods
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه علوم پزشكی اصفهان (اصفهان)
موضوع : Materials Testing
9. Atom Probe Microscopy
پدیدآورنده : / Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, Simon P. Ringer
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : TESTING&ENGINEERING, CIVIL|ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY|MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION
رده :
E-BOOK
10. Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)
پدیدآورنده : / Yonghua Rong
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)
موضوع : Nanostructured materials - Nondestructive testing,Electron microscopy
رده :
TA417
.
23
.
R66
2012
11. Clamped Metal Atomic Chains-In Situ Transmission Electron Microscopy Studies of Carbon Nanotube Nucleation Mechanism and Carbon Nanotube
پدیدآورنده : / Ming Tang-Dai
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : TESTING&ENGINEERING, CIVIL|ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY|MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION
رده :
E-BOOK
12. Coherent Light Microscopy
پدیدآورنده : / Pietro Ferraro, Adam Wax, Zeev Zalevsky
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : TESTING& ELECTRONIC|MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION &MATERIALS SCIENCE, BIOMATERIALS|ENGINEERING, ELECTRICAL
رده :
E-BOOK
13. Controlled Atmosphere Transmission Electron Microscopy
پدیدآورنده : / Thomas Willum Hansen, Jakob Birkedal Wagner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : INSTRUMENTATION& TESTING|INSTRUMENTS &MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION
رده :
E-BOOK
14. Developments in materials characterization technologies: sympsoium held 23 and 24 July 1995, during the 28th Annual Technical Meeting of the International Metallographic Society, Albuquerque, New Mexico, USA
پدیدآورنده :
موضوع : Congresses ، Materials-- Testing,Congresses ، Non-destructive testing,Congresses ، Materials-- Microscopy,Congresses ، Metallography
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
15. Developments in materials charactrization technologies: symposium held 23 and 24 July 1995, during the 28th Annual Technical Meeting of the International Metallographic Society, Albuquerque, New Mexico, USA
پدیدآورنده : edited by George F. Vaner Voort, John J. Friel
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Materials - Testing - Congresses , Non-destructive testing - Congresses , Materials - Microscopy - Congresses
رده :
TA
410
.
D48
1996
16. Electron beam microanalysis
پدیدآورنده : Beaman, Donald Robert.
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : ، Microchemistry,، Electron probe microanalysis,، Electron microscopy
رده :
QD
98
.
B32
1972
17. Electron beam microanalysis
پدیدآورنده : Beaman, Donald Robert.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Microchemistry,، Electron probe microanalysis,، Electron microscopy
رده :
QD
98
.
B32
18. Electron microfractography : a symposium presented at the seventy-first annual meeting, American Society for Testing and Materials
پدیدآورنده :
موضوع : Congresses ، Fractography,Congresses ، Electron microscopy
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
19. Electron optical applications in materials science
پدیدآورنده : Murr, Lawrence Eugene
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Materials-- Testing,، Electron optics,، Electron microscopy
رده :
TA
418
.
5
.
M87
20. Fundamentals of materials science and engineering : an integrated approach
پدیدآورنده : Callister, William D.
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : ، Materials,، TECHNOLOGY & ENGINEERING / Material Science
رده :
TA
403
.
C227
2012